xrd测试主要测什么,x射线衍射仪

应用及样品制备MTEST系列原位测试仪器简介及介绍:原位测试(微观力学测试 目测):试样材料的力学性能是在纳米尺度上进行的测试。测试是为了什么？XRD 测试 principle的原理是什么，XRD 测试 technology的原理是什么，什么是xrd analytical XRD，XRayDiffraction，中文:X射线衍射。

SEM:材料的表面形貌和形态特征。利用EDX，可以获得材料的元素组成信息。TEM:材料的表面形态和结晶度。有了EDX，可以得到材料的元素组成FTIR:主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在和材料的结构。如单键、双键等。拉曼:通过测量转动能和振动能，用来确定物质的结构。CV: CV曲线可以测试获得很多信息，比如需要的电沉积电压和电流，半导体行业可用的DC偏压[摘要]简述利用SEM，TEM，FTIR，Raman，CV，EIS，BET，XRD，质谱可以获得哪些信息？

原理不同:X射线是原子内层电子在高速运动电子轰击下跃迁产生的光辐射。晶体可以作为X射线的光栅，大量原子或离子/分子产生的散射会对光产生干涉，从而影响散射X射线的强度。由于大量原子散射波的叠加和相互干涉，强度最大的光束称为X射线的衍射线。XRD可用于定性和定量分析。也就是说，可以分析合金中的相组成和含量，

样品中具有固定结构的化合物(包括单质和固溶体)可以进行定性分析(含有什么物质)和定量分析(各种物质的含量)。如果制作单晶粉末衍射图，可以在数据库中搜索磷酸铝的晶型与否，从数据库中可以得到相应的晶格常数等一系列结构信息。也可以在不考虑其他误差的情况下，根据半宽(不理想)用谢勒公式计算晶体的晶粒尺寸。

XRD的测试 principle为布拉格方程，即nλ2*d*sinθ，其中λ为入射波长，d为晶面间距，θ为衍射角。换句话说，XRD对于测试的晶体结构是有效的，因为所有的晶体都有其独特的晶体学特征。