xrd图谱怎么分析,XRD图谱怎么分析元素组成

方法一:用jade5.0或者6.0，很复杂。看一下方法二:Manual 分析 Step 1，先找出可能物质的标准PDF卡，把那三种物质的晶系、晶格常数等信息标注出来，这些信息都在PDF卡上。第二步，用内标法或K值法计算样品中各种晶相的百分含量。内标法需要做内标曲线，K值法会更简单。第三步，根据你的样品中不同晶相对应的晶面间距公式和布拉格方程计算晶格常数。

方法一:用jade5.0或者6.0，很复杂。去百度一下教程。方法二:手动分析第一步:首先找出可能物质的标准PDF卡，把那三种物质的晶系、晶格常数等信息标注出来，这些信息都在PDF卡上。第二步，用内标法或K值法计算样品中各种晶相的百分含量。内标法需要做内标曲线，K值法会更简单。第三步，根据你的样品中不同晶相对应的晶面间距公式和布拉格方程计算晶格常数。

1，分析方法:1。数据输入Jade软件可以直接读取Rigaku、Bruker、Philips、Scintag等多台衍射仪的原始数据。打开它，会出现附件中显示的屏幕。首先，(I)找到您的文件位置，从(III)的下拉框中选择您的数据格式，然后按(II)进行选择。许多仪器输出文件的格式是*。raw，其实是不一样的，但是格式不对也没关系。软件会自动把它转换成适合你的格式。

进入格式设置画面，如附件所示。A区是评论区，B区是数据格式区。角度和强度数据格式最简单的一列，A区不需要填写，B区在“anglecolumn”前打勾，从第1行读取数据，每行一列数据。强度数据从第8行开始(不计算角度),角度范围从1到6列。获得的数据格式如附件所示。

分析方法:用已知波长的X射线测量θ角，计算晶面间距d，用于X射线结构分析；另一种是利用已知D的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而从现有的数据中找出样品中所含的元素。分析晶体衍射的基本公式是布拉格定律:2dsinθnλ，其中λ是X射线的波长，n是任意正整数，也称为衍射级数。当X射线以掠射角θ(入射角的余角)入射到点阵列平面间距为d的原子平面上时，

扩展资料:谱图分析注:一个XRD 图谱出来的时候图谱上有很多“毛刺”和高背景是因为样品的空气散射、漫散射、荧光和结晶不良，虽然可以通过增加X射线强度使信噪比翻倍，尽量少用平滑和反屈，因为这两种操作可能的后果就是把微弱的有用信息全部抹掉。如果数据用于Rietveld精化，就不要做这两个操作。

X射线粉末衍射图谱和数据，分析怎么样？例如，一个XRD谱图数据如下:2 thetad()bgheightgheight % area % fwhmxs()。13 . 25 . 47 . 70 . 8666。